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EEB de la resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 8X-800000X 1.5-3nm

Certificación
Porcelana Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd. certificaciones
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EEB de la resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 8X-800000X 1.5-3nm

EEB de la resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 8X-800000X 1.5-3nm
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Ampliación de imagen :  EEB de la resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 8X-800000X 1.5-3nm

Datos del producto:
Lugar de origen: CHINA
Nombre de la marca: Phidix
Certificación: IATF16949,CE
Número de modelo: M22005
Pago y Envío Términos:
Cantidad de orden mínima: Negociable
Precio: Negotiable
Detalles de empaquetado: 1 caja de PC/Wooden
Tiempo de entrega: 40 días del trabajo
Condiciones de pago: L/C, D/A, D/P, T/T, Western Union
Capacidad de la fuente: 10 PCS/Month

EEB de la resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 8X-800000X 1.5-3nm

descripción
Color: blanco Arreglo para requisitos particulares: OEM, ODM
Embalaje: 1 PC/Carton Garantía: 1 año
Plazo de obtención: 40 días del trabajo Capacidad de la fuente: 10 PCS/Month
Resolución: 1.5nm, 3nm Ampliación: 800000X
Voltaje de aceleración: 0~30KV Detección de señal: Ultra limpie el detector electrónico con la aspiradora secundario (con la función del perotection de
Arma de electrón: Arma de electrón de la emisión de campo de Schotty Tamaño de Max Sample: 340m m en diámetro, 50m m en altura
Función auto: Foco, brillante/contraste, Stigmator, alineación etc Sistema del vacío: 2 Ion Pump, 1TMP, 1RP
Alta luz:

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Resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 8X-800000X 1.5-3nm con la EEB, el EDS, EBSD y CL opcionales

 

El software de funcionamiento del microscopio electrónico M22005 se puede cambiar en chino/inglés con la disposición modular. Este software support la exhibición simultánea en tiempo real de 5 imágenes, 4 canales más ventana del CCD, y las funciones auxiliares potentes tales como síntesis de la imagen de electrón secundario e imagen de electrón retrorreflejada, medida de múltiples puntos del tamaño, anotación del texto de la imagen del microscopio electrónico, exhibición del mapa del vacío, exhibición de la ventana del CCD, etc., para cubrir las necesidades individuales de diversos usuarios. Funciones automáticas: el filamento automático, el alto voltaje, la concentración, el ajuste del brillo/de contraste, el astigmatismo, el haz electrónico que se centraba, la corrección automática del arma de electrón, la detección de falta, la reconstrucción opcional 3D, el etc. ahorraron imágenes: 16384x16384pixel BMP, GIF, TIF, JPG, MNG, ICOCUR, TGA, PCX, JP2, JPC, PGX, RAS, PNM, SKA, SEM

 

Specials:

 

- Ampliación 800000X máximo.

- Detección de señal: Ultra limpie el detector electrónico con la aspiradora secundario (con la función del perotection del detector).

- Voltaje de aceleración: 0~30KV, alta resolución de imagen.

- BSE/EDS/EBSD/CL es opcional, para el análisis componente.

- Sistema del alto vacío.

- Etapa motorizada Encentric de cinco hachas.

 

Artículo Especificación M22005
Resolución 1.5nm@15kV (SE), 3nm@30kV (EEB)
Ampliación 8X~800000X, ampliación exhibida: La ampliación se define con un tamaño 127mm*211m m de la exhibición
Voltaje de aceleración 0~30kV

Detección de señal

 

Ultra limpie el detector electrónico con la aspiradora secundario (con la función del perotection del detector)
Arma de electrón Arma de electrón de la emisión de campo de Schotty
Función auto Foco, brillante/contraste, Stigmator, alineación etc
StageSystem/movimiento Etapa manual estándar
X: 0~80m m
Y: 0~60m m
Z: 0~50m m
R: 360°
T: -5°~90°
Max Sample Diameter: 175m m
Max Sample Height: 40m m
Etapa motorizada Encentric opcional
X: 0~80m m                                             X: 0~150m m
Y: 0~50m m                                             Y: 0~150m m
Z: 0~30m m                                             Z: 0~60m m
R: 360°                                                   R: 360°
T: -5°~70°                                               T: -5°~70°
Max Sample Diameter: 175m m              Max Sample Diameter: 340m m
Max Sample Height: 20m m                    Max Sample Height: 50m m
Sistema del vacío 2 Ion Pump, 1TMP, 1RP
Detector opcional BSEEDSEBSDCL
Accesorios opcionales Etapa del Pre-vacío Chamber/EBL/Cryo/panel de control del manipulante nano/de la etapa extensible/bola de pista

Nota:● significa el estándar, ○ significa opcional

 

 

Galería

 

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Software de tratamiento de la imagen

 

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Contacto
Phidix Motion Controls (Shanghai) Co., Ltd.

Persona de Contacto: Johnny Zhang

Teléfono: 86-021-37214606

Fax: 86-021-37214610

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