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Datos del producto:
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| Color: | blanco | Arreglo para requisitos particulares: | OEM, ODM |
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| Embalaje: | 1 PC/Carton | Garantía: | 1 año |
| Plazo de obtención: | 40 días del trabajo | Capacidad de la fuente: | 10 PCS/Month |
| Resolución: | 3nm, 6nm | Ampliación: | 300,000X |
| Voltaje de aceleración: | 0~30KV | Detección de señal: | Detector electrónico secundario del alto vacío del CCD |
| Arma de electrón: | Cartucho centrado cátodo-Pre calentado tungsteno/LaB6 (opción) del filamento del tungsteno | Tamaño de Max Sample: | 175m m en diámetro, 35m m en altura |
| Función auto: | Calefacción del arma, diagonal, centrándose, foco, brillante, contraste, Stigmator, rectificación, d | Sistema del vacío: | 1TMP, 1RP |
| Alta luz: | microscopio electrónico de exploración de 8X-300 000X,microscopio electrónico de exploración de la resolución 3-6nm,microscopio electrónico de la transmisión de la exploración de c |
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Resolución del microscopio electrónico de exploración de la ampliación 8X-300,000X 3-6nm con EBSD opcional EBSD
El software de funcionamiento del microscopio electrónico M22003 se puede cambiar en chino/inglés con la disposición modular. Además de la función de la operación básica del microscopio electrónico, también tiene visión de la imagen del uno-tecleo. Este la serie software support la exhibición simultánea de tres imágenes en tiempo real, dos canales con la ventana del CCD, y las funciones auxiliares potentes tales como síntesis de la imagen de electrón secundario e imagen retrorreflejada, medida de múltiples puntos del tamaño, anotación del texto de las imágenes del microscopio electrónico, exhibición del mapa del vacío, exhibición de la ventana del CCD, etc., para cubrir las necesidades individuales de diversos usuarios.
Funciones automáticas: concentración, ajuste del brillo/de contraste, astigmatismo, haz electrónico que se centra, corrección automática del arma de electrón, detección de falta, visión del uno-botón, reconstrucción opcional 3D, etc.
Imágenes ahorradas: 4096x4096pixel BMP, GIF, TIF, JPG, MNG, ICO SEM.
Specials:
- Ampliación 300,000X máximo.
- Detección de señal: Detector electrónico secundario del alto vacío del CCD (con la función del perotection del detector), parte posterior de Segemation del semiconductor cuatro que dispersa el detector electrónico, cámara del CCD Montioring.
- Voltaje de aceleración: 0~30KV, alta resolución de imagen.
- EDS/EBSD/CL es opcional, para el análisis componente.
- Sistema del alto vacío.
- Etapa motorizada cuatro hachas.
| Artículo | Especificación | M22003A | M22003B |
| Resolución | 3nm@30kV (SE) | ● | ● |
| 6nm@30kV (EEB) | ● | ● | |
| Ampliación | 8X~300,000X, ampliación exhibida: La ampliación se define con un tamaño 127mm*211m m de la exhibición | ● | ● |
| Voltaje de aceleración | 0~30kV | ● | ● |
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Detección de señal
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Detector electrónico secundario del alto vacío del CCD (con la función del perotection del detector) Parte posterior de Segemation del semiconductor cuatro que dispersa el detector electrónico Cámara del CCD Montioring |
● | ● |
| Arma de electrón | Cartucho centrado cátodo-Pre calentado tungsteno/LaB6 (opción) del filamento del tungsteno | ● | ● |
| Función auto | Calefacción del arma, diagonal, centrándose, foco, brillante, contraste, Stigmator, rectificación, detección de falta | ● | ● |
| StageSystem/movimiento | Etapa motorizada cuatro hachas | ● | ● |
| X: 0~70m m, auto | ● | ● | |
| Y: 0~50m m, auto | ● | ● | |
| Z: 0~45m m, auto | ● | ● | |
| R: 360°, auto | ● | ● | |
| T: -5°~90°, manual | ● | ● | |
| Max Sample Diameter | 175m m | ● | ● |
| Max Sample Height | 35m m | ● | ● |
| Sistema del vacío | 1 TMP, 1RP (bomba de Turbomolecular, bomba mecánica) | ● | ● |
| Atmósfera baja del vacío (10-270Pa) | ● | ||
| Detector opcional | EDSEBSDCL | ○ | ○ |
| Accesorios opcionales | Etapa de EBLCryo&Heating StageNano ManipulatorTensile | ○ | ○ |
Nota:● significa el estándar, ○ significa opcional
Galería
Software de tratamiento de la imagen
Persona de Contacto: Johnny Zhang
Teléfono: 86-021-37214606
Fax: 86-021-37214610
